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检测项：低气压(高度)试验 检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序，方法1001 2.GJB360B-2009电子及电气元件试验方法，方法105 3.GJB150.2A-2009军用设备环境环境试验方法，第2部分 4.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法
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